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05/02/2019

Journal of Microscopy

Première page de couverture du Journal of Microscopy (Volume 273, Issue 2, Février 2019)

Journal of Microscopy

Le Journal of Microscopy a choisi une cartographie réalisée par Alexis Nicolaÿ, doctorant CEMEF pour la couverture de son numéro de février.

 

Cette cartographie est très intéressante : 

 
Elle présente des désorientations intragranulaires mettant en évidence deux populations de grains recristallisés différentes (une population de grains recristallisés dynamiquement et une autre de grains recristallisés post-dynamiquement). Cette distinction n'est habituellement pas possible à partir des données EBSD conventionnelles brutes car les écarts de niveaux de désorientation intragranulaire entre ces deux populations de grains sont noyés dans le bruit de mesure.
 
Cette cartographie est issue d'un jeu de données EBSD à faible bruit de mesure* ; condition nécessaire pour pouvoir distinguer ces deux populations de grains. L’une des solutions pour atteindre ces conditions est l'utilisation de détecteurs EBSD nouvelle génération (qui équipent le nouveau microscope du CEMEF). Une autre solution est de post-traiter les données acquises avec un système conventionnel au moyen du filtre développé par Anthony Seret pendant sa thèse faite au CEMEF dans le cadre de la chaire OPALE.
 
 
Alexis Nicolaÿ fait sa thèse sur le forgeage en presse à vis de l'Inconel 718 en collaboration avec Safran.  Dans cette thèse, il s’intéresse notamment aux phénomènes de recristallisation qui interviennent au cours des étapes de forgeages industriels opérées lors de la mise en forme des disques pour moteurs d'avions. 
 
Vous trouverez l’article qu’il a co-écrit dans le numéro de février du Journal of Microscopy : Discrimination of dynamically and post-dynamically recrystallized grains based on EBSD data: application to Inconel 718. A. NICOLAŸ, J.M. FRANCHET, J. CORMIER, H. MANSOUR, M. DE GRAEF, A. SERET & N. BOZZOLO
 


* < 0,2° quand le bruit de mesure conventionnel est aux alentours de 0.5°

JOURNAL OF MICROSCOPY - MINES ParisTech

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